Σύστημα ΤΕΜ
Ηλεκτρονικό Μικροσκόπιο Διέλευσης (Transmission Electron Microscope, TEM)
To Ηλεκτρονικό Μικροσκόπιο Διέλευσης είναι τύπου JEM-2100, της εταιρείας JEOL, είναι εφοδιασμένο με σύστημα υψηλής διακριτικής ικανότητας (high resolution, HR). Έχει διακριτικό όριο σημείου 0,23 nm και πλέγματος ίση με 0,14 nm. Υπάρχει δυνατότητα λειτουργίας του σε δυναμικό επιτάχυνσης 80, 100, 120, 160 και 200 kV. Εκτός από το σχηματισμό της εικόνας του ειδώλου σε μεγέθυνση μέχρι 1.500.000 φορές, είναι δυνατή και η απεικόνιση του προτύπου περίθλασης (diffraction pattern) του παρατηρούμενου κρυσταλλικού υλικού. Τέλος, διαθέτει ειδική υποδοχή δείγματος, που επιτρέπει την παρατήρησή του, ενώ στρίβει σε δύο άξονες.
